手机特殊条件测试可靠性测试

手机特殊条件测试

1·低温跌落试验（Low temperature Drop Test）
∞测试环境：-20"c；4台手机；开机状态。
∞试验方法：将手机进行电性能参数测试后处于开机状态放置在-20"c的低温试验箱内1小时后取出，进行1.2米的6个面跌落，2个循环，要求3分钟内完成跌落，方法同常温跌落。
∞检验标准：手机外观，结构，功能和电性能参数符合要求。

2．扭曲测试（Twist Test）
∞测试环境：室温；4台；开机状态；0.08倍手机厚度N-m力短扭曲手机1000次。
∞检验标准：手机没有变形，外观无异常，各项功能正常。

3.软压测试（Squeeze Test）
∞测试环境：室温（20~25"c）；4台；开机状态；25Kg力反复挤压手机10000次
∞检验标准：手机没有变形，外观无异常，各项功能正常。

4.撞击测试（impact Test）
∞测试环境：室温（20~25。C）；4台手机；0.2J的功率，打击镜片四角及中心各式各1次。
检验标准：手机镜盖无变形，无裂缝，无破损（允许有白点），LCD功能正常。

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