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电子产品的寿命一般都符合浴盆曲线，可分为三个阶段：

早夭期：由于设计，原材料，生产等可能出现的原因而导致一个较高失效率的阶段，也称失效率递减阶段，可通过环境应力筛选加以剔除，保证产品的可靠性。

稳定期：这一阶段产品失效率近似一个常数，只有随机失效产生，MTBF即要得到这一阶段的寿命。

耗损期：硬件故障期，产品这时已达到设计寿命，进入报废阶段。

寿命

元器件瞬时失效浴盆曲线图明白了MTBF和“浴盆”曲线的基本概念，我们对产品的使用寿命有了一定的掌握。在合适工作条件下器件使用寿命期内的故障率很低。广大电子爱好者都知道电子元器件的寿命，与工作温度是有密切关系的。以电脑主板上常用的也常出故障的电解电容器为例，其寿命会受到温度的影响。因此，应尽可能使电容器在较低的温度之下工作，如果电容器的实际工作温度**过了其规格范围，不仅其寿命会缩短，而且电容器会受到严重的损毁（例如电解液泄漏）。因此，在分析电脑主板上电容器的工作温度时，不仅要考虑机箱内整体环境温度及电容器自身的发热，还要考虑机箱内其他发热元件的热辐射（特别是CPU、稳压器、电源供应器等）。

MTBF计算方法：

MTBF一般测试方法有计算法，实验室预计测试法，实测法。实测法相对来说测试要求比较高，对于样品数量、样品测试时间、以及测试费用都比较高。目前MTBF主要应用的招投标项目都认可计算法和实验室预计测试法，所以我们市面上通常用的比较多的是计算法和实验室预测法。

关于 MTBF值的计算方法，通用的性标准是MIL-HDBK-217、GJB/Z299B和Bellcore，分别用于产品和民用产品。其中，MIL-HDBK-217是由美国*部可靠性分析中心及Rome实验室提出并成为行业标准，专门用于产品MTBF值计算，GJB/Z299B是我国标准；而Bellcore是由AT&TBell实验室提出并成为商用电子产品MTBF值计算的行业标准。

MTBF计算中主要考虑的是产品中每个器件的失效率。但由于器件在不同的环境、不同的使用条件下其失效率会有很大的区别，例如，同一产品在不同的环境下，如在实验室和海洋平台上，其可靠性值肯定是不同的；又如一个额定电压为16V的电容在实际电压为25V和5V下的失效率肯定是不同的。所以，在计算可靠性指标时，必须考虑上述多种因素。所有上述这些因素，几乎无法通过人工进行计算，但借于软件如MTBFcal软件和其庞大的参数库，我们就能够轻松得出MTBF值。