电子产品寿命测试项目有哪些

电子产品寿命测试
很多时候，在电子产品的使用阶段，我们生产厂商可能会收到一些投诉，会出现一些产品质量问题，如间歇性失效，开关机异常，元器件烧损等等问题。
常见失效情况
功能失效、开关机异常、异常断电、主板烧损、异常发热、异响、间歇性异常等各类电子产品失效异常。
高加速试验一股分为宝加速寿命试验和高加速应力应力筛选试验，高加速寿命试验（Highly Accelerated Life Testing，简称HALT试验）是一种利用高、低温变换的震荡体系来揭示电子和机械装配件设计缺陷和不足的过程，HALT的目的是在产品开发的早期阶段识别出产品的功能和破坏极限，从而优化产品的可靠性。HALT不是一种合格或者不合格的测试，是一种协助设计工程师改善产品可靠性的工具，没有预先设定极限，极限由产品决定，逐步增加应力，直至失效，试验中需要对产品进行监测.HASS（Highly Accelerated Stress Screening）试验产品通过HALT试验得出操作或破坏极限值后所做的高加速应力筛选，应力低于HALT试验。
低温步进应力试验、高温步进应力试验振动步进应力试验、热循环试验和综合应力试验，在这些试验过程中，往往伴随着工作应力如产品开/关机，电压位偏，频率拉偏等
适用范围
可为电工电子、仪器仪表、汽车以及航天产品的模块、通讯终端、部件以及整机等开展Halt/Hass试验。
测试标准：GB/T 29309；DKBA1141《通信产品HALT试验规范》
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